鍍層厚度熒光檢測(cè)儀,儀器采用能量色散X熒光FpThick軟件，*FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式，測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。 軟件具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-20053、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating

手持式測(cè)厚儀Genius5000,正品制造商 小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測(cè)器（世界上的探測(cè)器）及微型數(shù)字信號(hào)多道處理器三大核心技術(shù)的引入，大幅降低測(cè)試時(shí)間、提高檢測(cè)精度、減少測(cè)試誤差，使手持式儀器具有與臺(tái)式相近的測(cè)試性能。小巧便攜、操作快捷體積很小，便攜、方便野外工作。隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析。

廣東X射線鍍層測(cè)厚儀 Thick800a 是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào)

金屬厚度測(cè)量?jī)x Thick800A儀器價(jià)格，Thick800A金屬厚度測(cè)量?jī)x是集多年的經(jīng)驗(yàn)，專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款X-RAY測(cè)厚儀，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

金屬電鍍層厚度分析儀Thick800a儀器，儀器采用能量色散X熒光FpThick軟件，*FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式，測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。軟件具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏