毛細管聚焦X熒光鍍層測厚儀、連接器測厚儀 此系列產品可測量金屬準直無法測量的微區(qū)，多導毛細聚焦管光學元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測量微電子設備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。 可以測量納米級的鍍層，毛細聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強度比金屬準直系統(tǒng)高出幾個數量級。 可以實現更高的測試精度

XTU系列五金電鍍測厚儀測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動.

X射線熒光膜厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動.

柔性線路板X射線膜厚儀 XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。 外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm

XTD-200釹鐵硼磁鐵電鍍層X射線分析儀 1.*EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可測量。 2.上照式設計：實現可對超大工件進行快、準、穩(wěn)高效率測量。 3.自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦。 4.變焦裝置算法：可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。 5.小面積測量：小測量面積0.002mm2

鍍層ROHS分析一體機性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm3.*EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。 4.*解譜技術：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。 5.高性能探測器：S